FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

前言

在总结本文最后的多比特上升沿检测之前,我们先把备用知识讲清楚,摊开来,以免造成模糊不清的默许!

逻辑运算符与位元运算符

从表面上来看,逻辑运算符与位元运算符之间的区别就是一个符号写法的问题,例如:&&,&,||,|,!,~ 事实上,我们应该真正的从含义上理解它们:

所谓的逻辑运算符就是逻辑上的运算,那它的结果也就是真和假之分,即false and true,或者1b1 and 1b0,它是1比特的布尔值。 而位元运算,其实就是单比特之间的逻辑运算而已,多比特的话就按位进行逻辑运算,例如按位与(&),按位或(|)以及按位非(~)。

有关这方面的语法,我以前有很多博客,例如: Verilog中的逻辑运算符与按位运算符的区分

或者之前的专栏: 数字设计基础教程

由于逻辑运算符与位元运算符之间的区别在此,但这也仅仅是针对多比特信号才有的区别,对于单比特信号,其实结果是一样的,我们认为都行。

下面给出几组测试,来区分逻辑运算符以及位元运算符之间的区别:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

下面给出仿真:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

可见,逻辑运算符得到的结果总是1bit的,而位元运算符得到的结果和原输入数据位数一致,这和我们的认识也是相符合的。

下面给出上述设计以及仿真对应的RTL代码:

RTL设计代码:

module bitwise_test( input [3:0] in1, input [3:0] in2, output [3:0] out_bitwise_and, output [3:0] out_bitwise_or, output [3:0] out_bitwise_not, output out_logic_and, output out_logic_or, output out_logic_not ); assign out_bitwise_and = in1 & in2 ; assign out_logic_and = in1 && in2 ; assign out_bitwise_or = in1 | in2 ; assign out_logic_or = in1 || in2 ; assign out_bitwise_not = ~in1 ; assign out_logic_not = !in1 ; endmodule

Testbench代码:

module sim_bitwise_test( ); reg [3:0] in1 ; reg [3:0] in2 ; wire [3:0] out_bitwise_and ; wire [3:0] out_bitwise_or ; wire [3:0] out_bitwise_not ; wire out_logic_and ; wire out_logic_or ; wire out_logic_not ; initial begin in1 = 4b1001; in2 = 4b1100; #5 in1 = 4b1000; in2 = 4b1101; end bitwise_test u_bitwise_test( .in1 ( in1 ), .in2 ( in2 ), .out_bitwise_and ( out_bitwise_and ), .out_bitwise_or ( out_bitwise_or ), .out_bitwise_not ( out_bitwise_not ), .out_logic_and ( out_logic_and ), .out_logic_or ( out_logic_or ), .out_logic_not ( out_logic_not ) ); endmodule
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其实说起位元运算符以及逻辑运算符,在硬件描述语言中,还要一种不得不谈起,这几者算是同宗兄弟,只是完成者不同的使命,那便是缩位运算符:

HDLBits 系列(6)(Reduction)缩位运算符

其运算方式也十分简单,例如:

&a [3:0] // AND:a [3]&a [2]&a [1]&a [0]

| b [3:0] //或:b [3] | b [2] | b [1] | b [0]。 相当于(b [3:0]!= 4h0)

^ c [2:0] // XOR:c [2] ^ c [1] ^ c [0]

具体看我的其他博文吧,这里就不细讲了。

单比特信号上升沿检测

对于一个bit信号的上升沿检测,十分容易理解,实现方式也只有一种,那就是延迟,再逻辑运算,打拍得到结果。 例如,如下RTL原理图可以很清楚的说明问题: RTL原理图:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

下面是对上述电路的仿真:

仿真波形:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

对于上升沿检测,我们需要注意的是:FPGA设计心得(10)关于行为仿真的一点观点

我的观点只有一个,那就是我们在行为仿真的时候不要在正正好好时钟边沿处给数据,这是由于仿真工具对边沿处数据的不同处理方式,可能会导致得不到你想要的结果。具体还是看上面的链接吧,这里不再重提了。

下面附上上述设计以及仿真的RTL代码:

RTL设计:

module pos_detect( input wire clk , input wire rst , input wire in_a , output reg in_pos ); reg reg_in_a ; always@(posedge clk or posedge rst) begin if(rst) begin reg_in_a <= 1b0 ; end else begin reg_in_a <= in_a ; end end always@(posedge clk or posedge rst) begin if(rst) begin in_pos <= 1b0 ; end else begin in_pos <= ~reg_in_a && in_a ; end end endmodule
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Testbench仿真:

module pos_detect_tb( ); reg clk ; reg rst ; reg in_a ; wire in_pos ; always begin # 2 clk = ~clk; end initial begin clk = 1b0; rst = 1b1; in_a = 1b0; #10 rst = 1b0; #20 in_a = #(0.1) 1b1; #20 in_a = #(0.1) 1b0; end pos_detect u_pos_detect( .clk ( clk ), .rst ( rst ), .in_a ( in_a ), .in_pos ( in_pos ) ); endmodule
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多比特信号上升沿检测

对于多比特上升沿的检测,就要区分使用使用逻辑运算符和位元运算符了,如果用错了的话,肯定得不到想要的结果,这也就是所谓的小陷阱吧,专坑基础不牢或者马马虎虎的人。

除此之外,还有对于对比特的设计方式有如下几种,设计到for循环的使用,generate for循环的使用以及正常用法。 对于for循环以及generate for循环的含义,我在过去的博客上也多次写过,例如:

HDLBits 系列(7)对for循环以及generate for的各种实践

这篇文章对于generate for的使用提到一句比较关键的话就是generate for内部的语句要有一个名字:它的含义就是讲一个模块多次使用,形成多个模块的效果,属于并行的效果;可具体见博文,体会含义。 例如,使用generate for对全加器的多次例化,得到的文件结构是这样的:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

相应的RTL原理图也如此:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

使用三种方式对同一逻辑进行实现,部分RTL设计如下: 使用generate for形式:

genvar j; generate for(j = 0; j <= 3; j = j + 1) begin always@(posedge clk or posedge rst) begin:pos_detect3 if(rst) begin reg_in3[j] <= 1b0; out_pos3[j] <= 1b0; end else begin reg_in3[j] <= in1[j]; out_pos3[j] <= ~reg_in3[j] & in1[j]; end end end

至于使用for语句:

always@(posedge clk or posedge rst) begin : pos_detect1 if(rst) begin reg_in1 <= 4h0; out_pos1 <= 4b0; end else begin for(i = 0; i <= 3; i = i + 1) begin : bits_pos_ reg_in1[i] <= in1[i] ; out_pos1[i] <= ~reg_in1[i] & in1[i] ; end end end

以及普通的实现方式:

always@ (posedge clk or posedge rst) begin : pos_detect2 if(rst) begin reg_in2 <= 4b0; out_pos2 <= 4b0; end else begin reg_in2 <= in1; out_pos2 <= ~reg_in2 & in1; end end

也能实现同样的功能,例如对其仿真示意图一致:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

生成的RTL原理图虽略有差异:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

但本质上还是一致的,且看综合示意图:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

可见综合出来的结果,三者的结果采样了同一个中间过程,也就是最终在FPGA上的实现方式完全一致。

再给出implementation后的结果:

FPGA逻辑设计回顾(3)多比特信号上升沿检测的设计方式与陷阱?

不用多想,结果也是一致的,虽然第2级触发器分开使用了不同的触发器,那是因为要分配给不同的输出,同时输出而非分时输出,也在意料之内,结构一致。

最终在FPGA中实现的电路也是这样的,实现是最接近底层的一级。

下面给出上述设计以及仿真的代码:

module bits_pos_detect( input wire clk, input wire rst, input wire [3:0] in1, output reg [3:0] out_pos1, output reg [3:0] out_pos2, output reg [3:0] out_pos3 ); reg [3:0] reg_in1 ; reg [3:0] reg_in2 ; reg [3:0] reg_in3 ; integer i ; always@(posedge clk or posedge rst) begin : pos_detect1 if(rst) begin reg_in1 <= 4h0; out_pos1 <= 4b0; end else begin for(i = 0; i <= 3; i = i + 1) begin : bits_pos_ reg_in1[i] <= in1[i] ; out_pos1[i] <= ~reg_in1[i] & in1[i] ; end end end always@ (posedge clk or posedge rst) begin : pos_detect2 if(rst) begin reg_in2 <= 4b0; out_pos2 <= 4b0; end else begin reg_in2 <= in1; out_pos2 <= ~reg_in2 & in1; end end genvar j; generate for(j = 0; j <= 3; j = j + 1) begin always@(posedge clk or posedge rst) begin:pos_detect3 if(rst) begin reg_in3[j] <= 1b0; out_pos3[j] <= 1b0; end else begin reg_in3[j] <= in1[j]; out_pos3[j] <= ~reg_in3[j] & in1[j]; end end end endgenerate endmodule
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测试平台:

module bits_pos_detect_tb( ); reg clk; reg rst; reg [3:0] in1; wire [3:0] out_pos1; wire [3:0] out_pos2; wire [3:0] out_pos3; initial begin clk = 0; forever begin #5 clk = ~clk; end end initial begin rst = 1; in1 = 4h0; #18 rst = 0; in1 = #(0.5) 4b1011; #20 in1 = #(0.5) 4b0000; #18 in1 = #(0.5) 4b1101; #20 in1 = #(0.5) 4b1001; #18 in1 = #(0.5) 4b1010; end bits_pos_detect u_bits_pos_detect( .clk ( clk ), .rst ( rst ), .in1 ( in1 ), .out_pos1 ( out_pos1 ), .out_pos2 ( out_pos2 ), .out_pos3 ( out_pos3 ) ); endmodule
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